Contexte :
Dans
le contexte actuel de l’omniprésence de l’électronique
dans notre
société, la fiabilité est devenue une
préoccupation majeure, tant par
son impact sur les politiques commerciales que sur la
compétitivité
économique et la sécurité des personnes. Or, les
agressions
électriques,du type décharges électrostatiques
(ESD), surcharges
électriques (EOS) et interférences
électromagnétiques (EMI), sont à
l’origine de plus de50% des défaillances des circuits
intégrés. De
plus, avec l’avènementdes technologies sans fils et des
applications
dites « by-wire » en automobile et dans
l’aviation, les
spécifications de robustesse à ces agressions se sont
considérablement
durcies.
Pour améliorer la fiabilité
d’un composant ou d’un système électronique
tout en étant compétitif, se pose la question de
l’adéquation des
protections nécessaires aux agressions réelles ainsi que
de la
méthodologie à mettre en œuvre pour les optimiser.L'objectif principal de cette
journée est de permettre
d’échanger des points de vue transverses sur la fiabilité
des
composants et des systèmes grâce à la
présentation de travaux de
recherche ou d’expériences industrielles concernant la
fiabilité des
systèmes électroniques et de leurs composants soumis
à des
perturbations électriques (EOS, ESD, EMI).
Pour
cette deuxième édition du workshop EOS/ESD/EMI, nous
voulons
donner une place importante aux aspects systèmes, du circuit
intégré au
système complet tel qu’une automobile, afin d’identifier les
verrous
qu’il faudrait lever pour améliorer significativement la
fiabilité des
systèmes électroniques.