Stage effectué à :

MOTS CLES :

 CEM, FULL CUSTOM, SUBMICRON TECHNOLOGIES, INTERCONNECTIONS, SIGNAL CHARACTERISATION ...

Société NORTH SAILS SA, 25 rue Delacôte, 95 730 GOSIER, Guadeloupe. (www.northsails.com)

 NAISH Robby, responsable du Département conception et validation de systèmes de navigation autonomes.

  La société NorthSails, spécialiste mondial dÆoutils navals de navigation, a développé depuis très peu de temps, un bureau dÆétude électronique et automatique, dont la mission est la réalisation dÆasservissements de mâts en fonction de la vitesse du vent et de la position latitude longitude de la planche à voile. De nouveaux capteurs associant la technologie de micro-systèmes sont conçus et développés.

Cette société emploie, à lÆheure actuelle 800 personnes, dont plus de 40% sont des cadres.

Société en pleine croissance économique, sa politique dÆembauche dans les prochains mois, passe par un recrutement de plus de 15 ingénieurs électroniciens débutants.

 Ce travail de fin d æétudes dÆingénieur intitulé, "Etude des problèmes de Compatibilité Electromagnétique dans les systèmes micro-électroniques submicroniques", présente mes activités concernant la modélisation de la diaphonie, couplage électromagnétique en mode conduit dans les circuits intégrés en technologie CMOS.

Afin de prendre en compte lÆaspect système électronique et ses contraintes vis-à-vis des nouvelles normes de CEM, les différents constituants du système ont été étudiés :

• le circuit intégré,
• les interfaces entre le circuit intégré et le boîtier dÆencapsulation,
• le boîtier d'encapsulation,
• le multi-chip ou le circuit imprimé sur lequel est montée le composant.

Ces travaux sÆeffectuent dans le cadre dÆun projet Européen, directement en relation avec les nouvelles normes Européennes. En effet, depuis le 1er Janvier 1996, l'Europe regarde de très près le caractère "électromagnétique" de tous les produits industriels ou grand public comportant des éléments électriques ou électroniques (directive Européenne 89/336/CEE).

Au delà de la norme qui concerne principalement la mesure des deux modes de couplage CEM sur le produit fini, nous considérons les problèmes CEM à leur source, c'est-à-dire dans l'étude théorique du comportement des lignes de transmission des signaux, et du phénomène de couplage entre les interconnexions les véhiculant.

Avec l'évolution technologique vers les petites dimensions, les surfaces en regard entre interconnexions, deviennent proportionnellement plus grandes. La capacité parasite entre les conducteurs s'en trouve renforcée, la capacité vers la masse est diminuée, tandis que l'inductance augmente.

Représentation au microscope électronique d'une coupe de circuit intégré CMOS

LÆensemble de ces phénomènes ont été modélisés, par une approche mixte :

• résolution analytique des équations de couplage
• résolution par méthode des éléments finis des équations de Maxwell.

Notons qu'une modélisation analytique même "approchée" offre l'énorme avantage de pouvoir prédire la susceptibilité d'un circuit intégré présentant plusieurs dizaines de milliers de transistors.

LÆensemble de ces travaux permettent de proposer des solutions dès la phase de design, visant à réduire le couplage en mode conduit au niveau du système électronique (abaques de diaphonie).

Les travaux de modélisation réalisés ont ensuite été caractérisés par la mesure. Différents véhicules de tests ont été réalisés en full custom, et testés malgré le problème de très petites valeurs de capacités parasites mises en jeu.

Modélisation des effets parasites en mode conduit sur les micro-contrôleurs HHD 45312 embarqués dans les systèmes de navigation par satellite.

Stage effectué dans le Laboratoire dÆessais de caractérisation dirigé par MR A. MARTINEZ

(équipe de 25 personnes)

Cette étude est effectuée dans le cadre dÆun projet Européen JESSI AC5, avec les partenaires Européens : Philips, SGS Thomson, 3D+, et MATRA.